简述： SPA-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自行研究开发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统，拥有高精度、宽测量范围、迅速灵活、兼容性强等明显优势。产品可以同时支持DC电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)及其高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加速前沿材料研究、半导体芯片器件设计及其先进工艺的开发，拥有桌越的测量效率与可靠性。 基于模块化的体系结构设计，SPA-6100半导体参数分析仪可以帮助客户根据测试需要，灵活选配测量单元进行升级。产品支持Z高1200V电压、100A大电流、1pA小电流分辨率的测量，同时检测10kHz至1MHz范围内的多频AC电容测量。SPA-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式人工操作或结合探针台的自动操作,可以从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程，实现高效和可重复的器件表征;还可与高低温箱、温控模块等搭配使用，满足高低温测试需求。详询一八一四零六六三四七六；

产品特性：30μV-1200V,1pA-100A宽量程测试能力； 测量高精度,全量程下达到0.03%精度；自带标准器件测试程序，直接调用测试方便； 自动实时参数选取，数据绘图、分析函数； 在CV和IV测量之间迅速切换而不需要重新布线；提供灵活的夹具定制方案，兼容性强； 无偿提供上位机软件及SCPI指令集； 典型应用： 纳米、柔性等材料特性分析； 二极管；MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；第三代半导体材料/器件；有机OFET器件；LED、OLED、光电器件； 半导体电阻式等传感器； EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管； 电阻率系数和霍尔效应测量； 太阳能电池； 非易失性存储设备； 失灵分析；

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